（恒溫恒濕試驗箱ASMT2423.3與ASMT2423.9的區(qū)別）

　　GB/T2423.9-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb設(shè)備用恒定濕熱》恒溫恒濕試驗箱GB/T2423.9-2001標(biāo)準(zhǔn)用于確定電工電子產(chǎn)品，主要是指設(shè)備在高濕條件下使用和儲存的適應(yīng)性。本試驗主要用以觀察試驗樣品在恒定溫度、無凝露、經(jīng)規(guī)定時間及高濕環(huán)境下的影響。有試驗有數(shù)種不同溫度、濕度和試驗持續(xù)時間的嚴(yán)酷等級供選擇使用。本試驗可用于散熱型及非散熱型試驗樣品。本試驗特別適用于大型設(shè)備或試驗時可能與試驗室外的測試裝置有復(fù)雜連接的設(shè)備。這種連接需要一定的裝配時間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。在試驗時，試驗樣品及恒溫恒濕試驗箱均為室溫，將試驗樣品放入試驗箱中。試驗箱內(nèi)的試驗條件按照第6章中要求的嚴(yán)酷等級進行調(diào)節(jié)，并保持規(guī)定時間。由于靠近散熱試驗樣品附近的溫度及濕度與規(guī)定的試驗值有很大的不同，因此對于這些參數(shù)的測量要按自由空氣條件中所用的方法進行。GB/T2423.3-1993試驗Ca：恒定濕熱中的非凝露條件是通過在試驗樣品進入試驗箱前對其進行預(yù)熱而獲得的。在本試驗中，試驗樣品是在室溫條件下進入試驗箱內(nèi)，然后加熱到規(guī)定的溫度。試驗過程是在不形成凝露的條件下進行的。注：GB/T2423.3-2006代替了GB/T2423.3-1993及GB/T2423.9-2001。